概要

SiliconExact™は、半導体回路の設計検証ソリューションを提供するサービスです。従来行われてきた検証手法では把握できなかった現象をシミュレーションによって捉えることができるような、革新的な検証手法を提案し、お客様が活用できる設計環境を構築します。また、この設計検証環境を用いて、お客様の回路の不良原因の究明をお手伝いし、設計品質の向上のためのアドバイスを行います。

SiliconExact™は、特に大規模メモリー回路、イメージセンサー回路、高精度を要求されるアナログ回路等の設計検証に有効です。

特徴

  • SPICE精度の高速・大規模回路サインオフ検証ツールCircExact™を使用
    1千万素子を超える回路規模の検証が可能です。
  • 大規模回路の検証に最適な設計検証メソドロジーを提案
  • 各種不良モデルに基づく検証手法を提案
  • エキスパートによるコンサルテーション

適用例

CMOSイメージセンサーの設計におけるSiliconExact™サービスの適用例を示します。
CMOSイメージセンサーにおける不良のひとつとして、暗時シェーディングと呼ばれるものがあります。図1のように、本来は全面が黒の画像に対し、輝度信号のばらつきにより部分的に明るく見える現象です。

図1 CMOSイメージセンサーの暗時シェーディング(dark shading)画像イメージと輝度分布の例

SiliconExact™サービスの一環として、数千列の画素やそれに接続される輝度信号検出回路等の同時動作を一度にシミュレーションすることが可能な検証手法を提案します。 図2のグラフはそうして得られた数千列のADC比較器の出力を示した例です。青いラインは、SiliconExact™で提案する手法でシミュレーションした結果で、画素出力レベルのばらつきをシミュレーションで捉えています。一方、赤いライン従来の検証手法によるシミュレーション結果で、ほぼフラットに見えているとおり、画素出力レベルのばらつきを把握できていません。

図2 配線の寄生抵抗・容量を考慮した場合と無視した場合のシミュレーション結果比較